立即下載技術文章精選 : 半導體設計，驗證及測試
NI 精選 8 篇半導體設計，驗證及測試相關技術文章，了解 PXI 將如何協助您縮短測試時間、提升效能，千萬別錯過!
[一月排行榜] 十大熱門技術文章
本月上榜的主題很豐富喔，包含新版 CLAD 考前模擬試題、VeriStand 建立FPGA 架構的 I/O 介面、透過 LabVIEW 開發簡易機器人等，趕快來瞧瞧吧!
Demo 影片 : 半導體驗證與測試入門影片系列
系列入門影片，立即進入 NI 半導體世界。彈性的軟硬體組合，幫助您降低成本同時提升品質及測試速度。
2010.01.27 NI 發表 Multisim 11，將簡化電路模擬的教學與設計程序
NI 日前發表最新版本的 Multisim 11 電路模擬軟體，可同時用於實作教學與專業電路設計。簡單易用的 Multisim 軟體具備圖形化的程式設計方式，可降低傳統電路模擬的複雜性，讓教師、學生，與工程師均可了解高階的電路分析技術。
2010.01.27 NI 發表進階的 6.6 GHz PXI Express RF 模組化儀器
NI 針對自動化無線裝置測試，發表新的二款 PXI Express RF 模組化儀器：NI PXIe-5663E - 6.6 GHz 向量訊號分析器與 NI PXIe-5673E - 6.6 GHz 向量訊號產生器；這是針對使用最新無線標準 (如 WLAN、WiMAX，與 GSM/EDGE/WCDMA) 的多款裝置，將有效大幅縮短自動化測試時間。
2010.01.27 NI 連續 11 年入選財富雜誌 (FORTUNE) 百大最佳工作環境的公司之一
財富 (FORTUNE) 雜誌連續 11 年將 NI 列為百大最佳工作環境的公司之一。此年度調查是對全球數百家公司隨機選出員工進行投票，並以嚴格條件篩選出最佳工作環境的公司。
更多新聞
Semiconductor Test Summit 2010 (半導體測試高峰論壇)
集合Teradyne，太克，致茂等廠商，從相容性測試、 IC 訊號特性描述或驗證、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測等，精彩內容請勿錯過
[新竹專屬] NI 2010 機器視覺技術研討會
分享如何開發機器視覺軟體，快速完成定位、瑕疵檢測、二維量測、物件辨識。NI 影像視覺開發模組提供最簡易的開發工具，活動詳情>>
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