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立即下載技術文章精選 : 半導體設計,驗證及測試
NI 精選 8 篇半導體設計,驗證及測試相關技術文章,了解 PXI 將如何協助您縮短測試時間、提升效能,千萬別錯過!

[一月排行榜] 十大熱門技術文章
本月上榜的主題很豐富喔,包含新版 CLAD 考前模擬試題、VeriStand 建立FPGA 架構的 I/O 介面、透過 LabVIEW 開發簡易機器人等,趕快來瞧瞧吧!

Demo 影片 : 半導體驗證與測試入門影片系列
系列入門影片,立即進入 NI 半導體世界。彈性的軟硬體組合,幫助您降低成本同時提升品質及測試速度。

2010.01.27 NI 發表 Multisim 11,將簡化電路模擬的教學與設計程序
NI 日前發表最新版本的 Multisim 11 電路模擬軟體,可同時用於實作教學與專業電路設計。簡單易用的 Multisim 軟體具備圖形化的程式設計方式,可降低傳統電路模擬的複雜性,讓教師、學生,與工程師均可了解高階的電路分析技術。

2010.01.27 NI 發表進階的 6.6 GHz PXI Express RF 模組化儀器
NI 針對自動化無線裝置測試,發表新的二款 PXI Express RF 模組化儀器:NI PXIe-5663E - 6.6 GHz 向量訊號分析器與 NI PXIe-5673E - 6.6 GHz 向量訊號產生器;這是針對使用最新無線標準 (如 WLAN、WiMAX,與 GSM/EDGE/WCDMA) 的多款裝置,將有效大幅縮短自動化測試時間。

2010.01.27 NI 連續 11 年入選財富雜誌 (FORTUNE) 百大最佳工作環境的公司之一
財富 (FORTUNE) 雜誌連續 11 年將 NI 列為百大最佳工作環境的公司之一。此年度調查是對全球數百家公司隨機選出員工進行投票,並以嚴格條件篩選出最佳工作環境的公司。

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近期研討會及課程

Semiconductor Test Summit 2010 (半導體測試高峰論壇)
集合Teradyne,太克,致茂等廠商,從相容性測試、 IC 訊號特性描述或驗證、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測等,精彩內容請勿錯過

[新竹專屬] NI 2010 機器視覺技術研討會
分享如何開發機器視覺軟體,快速完成定位、瑕疵檢測、二維量測、物件辨識。NI 影像視覺開發模組提供最簡易的開發工具,活動詳情>>

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以 PXI 提升半導體的檢驗測試 (3 mins.)
觀看此網路研討會以粗略了解高效能 FPGA 架構的 PAC 與 LabVIEW 新功能的 Demo。